基本信息
李同保 ,男 ,1942年10月出生 ,任职于同济大学物理系 ,研究员 ,博士生导师、教授
主要研究领域为:光学、计量学、光辐射测量技术与标准研究
学术成果
论文
2016年,从黑体辐射标准到量子坎德拉,光源与照明,2016年04期,页码:4-7
2016年,计算电容中Fabry-Perot干涉仪测量位移的相位修正方法,物理学报,2016年11期,页码:48-56
2016年,基于AFM硅表面局域阳极氧化的特性研究及纳米计量标准样板的制作,纳米技术与精密工程,2016年02期,页码:74-81
2015年,多层膜光栅传递标准样品的抛光技术研究,SHJG201512001,2015年
2015年,用改进的快速傅里叶变换法评估一维标准样板线节距数据,光学精密工程,2015年01期,页码:236-242
2015年,Replication and subdivision of chromium nano-grating in atom lithography,Replication and subdivision of chromium nano-grating in atom lithography,2015年
教育背景
-----1963,上海同济大学,应用物理
工作经历
1983--1999.05,中国测试技术研究院,研究员;副院长;院长;名誉院长
1980.04--1980.11,美国国家标准与技术研究院
1963-----,北京中国计量科学研究院光学研究室
中国测试技术研究院,院长
中国计量测试学会,副理事长
中国照明学会光电子及系统学会,理事
荣誉奖励
荣誉
2017年,被授予“中国测试技术研究院名誉院长”荣誉
1980年,被美国国家标准与技术研究院优秀客座研究人员奖授予“美国国家标准与技术研究院优秀客座研究人员奖”荣誉