摘要：
测量大直径圆环面平面度的装置及方法，涉及机械加工装调检测领域的测量技术，解决现有圆环平面度的测量装置存在结构复杂和使用受限的问题，现在测量方法由于存在测量精度低而导致测量误差大等问题，包括精密转台、内调焦光管、光纤点光源、转台调平机构、测杆和CCD探测器。本方法首先利用内调焦光管把光纤点光源成像在被测圆环面上方，精密转台带动点光源的像点旋转在空间画圆，然后以此圆所在的平面为基准，用CCD探测器接收点光源像点，根据脱靶量测出被测点与基准平面的距离，最后通过数据处理计算即可得到被测圆环面的平面度。本发明测量精度高，数据处理简单，操作方便，效率高，成本低；本发明适用于大尺寸圆环件平面度的检测。
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