ZnO薄膜体声波谐振器性能分析和研制
汤亮 郝震宏 乔东海 汪承灏 · 2008
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期刊名称:
压电与声光   2008 年 第4期 期
发表日期:
2008
摘要:
采用射频网络法分析了ZNO薄膜体声波谐振器的谐振特性,并考虑了介质声损耗对品质因数Q值的影响.采用硅体刻蚀工艺在硅基片上制备了以ZNO薄膜为压电膜的薄膜体声波谐振器,并对器件的性能进行了测试.将实验与理论分析结果进行对比,发现实验器件的谐振频率与理论值一致,但器件Q值却比理论值低,进一步的分析揭示了实际器件Q值偏低的原因.
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