一种新型光纤高温测量装置

姜德生程家骐王立新戴珩田建伟 · 2001

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专利权人：

武汉理工大学

申请人：

武汉理工大学

通讯地址：

430070湖北省武汉市武昌珞狮路武汉理工大学

专利类型：

实用新型

专利号：

CN2465162

公开日期：

2001.12.12

摘要：

一种新型光纤高温测量装置,其特征在于所述装置由金属陶瓷管、保护套筒、陶瓷黑体腔、光纤探头和传输光纤组成,金属陶瓷管和保护套筒连接,黑体腔装在金属陶瓷管中,光纤探头装在保护套筒内伸入保护套筒内的传输光纤相连.本实用新型成本低,使用寿命长.本实用新型温度测量范围为700℃-1600℃,测量精度为5‰.可广泛用于冶金、化工等行业中.