摘要:
利用质量分离的低能双离子束外延技术 ,得到了 (Ga ,Mn ,As)化合物。衬底温度 5 2 3K条件下生长的样品的俄歇电子谱表明 ,一部分锰淀积在GaAs的表面形成一层厚度约为 3 0nm的外延层 ,另一部分锰离子成功注入到GaAs基底里 ,注入深度约为 160nm。衬底温度为 5 2 3K时获得了Ga5.2 Mn相 ,衬底温度为 673K时获得了Ga5.2 Mn、Ga5Mn8和Mn3 Ga相。在 1113K条件下对 673K生长的样品进行退火 ,退火后样品中原有的Mn3 Ga消失 ,Ga5Mn...