高压下Cu_2O电输运性质的研究

李淑甲刘才龙高春晓 · 2016

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去角

会议名称：

第十八届中国高压科学学术会议

会议时间：

2016-07-25 00:00:01

会议地点：

中国四川成都

摘要：

<正>本文中,我们运用高压原位电阻率、交流阻抗谱等电学测量手段对以低温液相方法合成的初始形貌为立方体、去角八面体、八面体的Cu2O单晶粉末的高压电学性质进行了研究。我们利用化学气相沉积和光刻技术,在金刚石对顶砧(DAC)上集成薄膜微电路,进行了高压原位电学性质的测量。实验发现三种不同初始形貌样品的电阻率对压力的依赖关系存在明显差异,表面由六个{100}平面构成的立方体Cu2O的电阻率随压力增大而减小,表面由八个{111}面构成的八面体Cu2O