一种测量大天顶距处的大气折射值的方法和系统
曹建军 于涌 赵铭 唐正宏 · 2015
收藏
阅读量:265
专利权人:
中国科学院上海天文台
申请人:
中国科学院上海天文台
通讯地址:
中国科学院上海天文台
专利类型:
发明专利
专利号:
CN104458653A
摘要:
本发明提供一种测量大天顶距处的大气折射值的方法,包括:S0,提供望远镜、图像采集终端、处理器及包括两块反射镜以使望远镜具有第一、第二视场的角反射器;测量两块反射镜之间的实际夹角L0;S1,通过用第一、第二视场观测位于小、大天顶距处的两个不同天区,并提取图像采集终端采集的星象图像;S2,区分星象图像中的观测星象分别来自哪个天区,并获取各观测星象对应的天球坐标;S3,将天顶标记为Z,根据各观测星象对应的天球坐标解算出第一、第二视场的实际视场中心σ0和σ1对应的地平坐标(A0,h0)和(A1,h1);S4,根据Z、A0、A1以及L0获取第二视场的实际视场中心σ1处的大气折射值。本发明避免了地方参数和仪器参数等系统误差的影响,消除了累积测量误差,提高了测量精度。
相关专家
相关课题