一种离体神经组织损伤程度检测装置
专利权人:
中国科学院电工研究所
申请人:
中国科学院电工研究所
通讯地址:
中国科学院电工研究所
专利类型:
实用新型
专利号:
CN106124564A
摘要:
一种离体神经组织损伤程度检测装置,包括检测池(1)、刺激电极(31、32)、刺激电压发生电路(4)、记录电极(33、34)、电生理记录仪(5)、损伤电位测量电极(21、22)和电压显示设备(6)。检测池(1)用于培养离体神经组织(7)。刺激电极(31、32)和刺激电压发生电路(4)连接,刺激电压发生电路(4)产生脉冲刺激,经刺激电极(31、32)向离体神经组织(7)施加脉冲刺激。电生理记录仪(5)与记录电极(33、34)相连,记录复合动作电位的波形。损伤电位测量电极(21、22)分别贴在神经组织损伤处和损伤处尾侧的组织上,测量离体神经组织的损伤电位。电压显示设备(6)与损伤电位测量电极(21、22)连接,显示损伤电位的数值。
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