一种超导约瑟夫森平面磁梯度计
伍岳 肖立业 侯世中 · 2017
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专利权人:
中国科学院电工研究所
申请人:
中国科学院电工研究所
通讯地址:
中国科学院电工研究所
专利类型:
实用新型
专利号:
CN106707203A
摘要:
一种超导约瑟夫森平面磁梯度计,包括下层超导层(1)、非超导介质层(2)及上层超导层(3)。所述的下层超导层(1)为闭合双环结构。组成闭合双环的两个环路形状及尺寸相同,闭合双环之间存在公共环路区域。非超导介质层(2)位于下层超导层(1)的公共环路区域上方,上层超导层(3)位于非超导介质层(2)上方。下层超导层(1)、非超导介质层(2),及上层超导层(3)共同覆盖的区域构成一个约瑟夫森结。约瑟夫森结沿下层超导层公共环路区域的环路切线方向的长度(4)大于约瑟夫森结的穿透深度λJ,且二者的比值大于2π。
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