易调节的气体密度测量系统及其测量方法

冯珂李文涛王文涛余昌海方明吴颖齐荣张志钧刘建胜王成冷雨欣李儒新 · 2016

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专利权人：

中国科学院上海光学精密机械研究所

申请人：

中国科学院上海光学精密机械研究所

通讯地址：

201800上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

专利类型：

发明专利

专利号：

201610016650.4

公开日期：

2016.05.25

摘要：

一种易调节的气体密度测量系统，包括格林棱镜、透镜、直角反射棱镜、可调节光学镜架、水平导轨、CCD，本发明能够有效的测量气体密度的分布，具有操作简单，方便高效，应用范围广泛的优点。本发明利用光束进入直角反射棱镜后平行于原光束出射的特点，实现调节直角反射棱镜时，只有一个维度上对光束产生影响，从而降低系统调节的复杂性。本发明可用于激光等离子体相互作用的领域，特别是等离子体尾波场加速电子机制中，探测等离子体通道的形成以及气体密度的分布。

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