用于大序列细胞划痕迁移观测的微流控芯片及其观测方法

陈健卫元晨陈峰张韬陈德勇贾鑫王军波郭伟 · 2016

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专利权人：

中国科学院电子学研究所;中国人民解放军总医院;北京大学人民医院

申请人：

中国科学院电子学研究所;中国人民解放军总医院;北京大学人民医院

通讯地址：

100190北京市海淀区北四环西路19号

专利类型：

发明专利

专利号：

201510689325.X

公开日期：

2016.01.20

摘要：

本发明提供了一种用于大序列细胞划痕迁移观测的微流控芯片及其观测方法。该微流控芯片包括：基底以及固定于基底上方的功能层；其中，在所述功能层上形成功能小室阵列，在该功能小室阵列中各功能小室底部基底部分的上表面形成有电性隔离的第一电极和第二电极。本发明微流控芯片一次可以多组平行实验，通量高，从而大大降低了实验成本，实现了大序列细胞划痕迁移观测实验。

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