磁力耦合式光纤光栅大电流测量方法及装置
周次明 王东礼 邬林 姜德生 姚远 · 2011
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专利权人:
武汉理工大学
申请人:
武汉理工大学
通讯地址:
430070湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
专利类型:
发明专利
专利号:
CN102156212A
公开日期:
2011.08.17
摘要:
一种磁力耦合式光纤光栅大电流测量方法及装置.该装置包括电流接入导线、集磁片、弹性元件,光纤布喇格光栅以及辅助定位构件;其中集磁片与集磁片之间通过弹性元件连接,光纤布喇格光栅安装在弹性元件上,辅助定位构件用于电流接入导线与集磁片之间的定位.当大电流进入电流接入导线时,在导线周围形成磁场将集磁片磁化后,集磁片与集磁片,集磁片与导线之间产生相互作用力,引起与集磁片相连的弹性元件发生弹性形变,进而导致安装在弹性元件上的光纤布喇格光栅的中心波长发生移动,此信号通过光纤传输到光纤光栅解调仪解调,达到测量大电流的目的.本装置体积小,重量轻,结构简单,本质绝缘,不需接外电源,适用于大电流的测量和监测.
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